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引出两侧通用测试
万用兼容通用测试
64XR10LF64XR100K64XR1KLF64XR1MLF
64WR10LF64WR100K64WR1KLF64WR1MLF
夹具老化QFN芯片
微控制器封装半导体
间距0.5编程测试
微控制器贴片S9S12G64F0MLFR
微控制器单片机S912ZVL64F0MLF
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